CTRM700 是韓國?????所研發(fā)并由韓國Nanoscope Systems 進行商業(yè)化運營的熱反射式激光共聚焦顯微鏡。

CTRM 700 利用的是激光共聚焦掃描的方法測量樣品表面或內部特定表面上溫度變化引起的反射率變化的分布來獲取樣品的熱分別圖像。

Principles & Benefits（性能及優(yōu)勢）：

熱反射顯微鏡（Thermal Reflectance Microscope) 是一種基于測量樣品表面光反射率變化而測量樣品溫度變化的一種技術。

共聚焦熱反射顯微技術是一種激光掃描共聚焦方法，它可以在局部區(qū)域獲得比傳統(tǒng)熱成像技術（紅外成像技術）更高分辨率的熱成像圖像。

Application field（應用領域）：

半導體器件熱特性的測量與分析：

-柔性顯示面板缺陷檢查

-OLED內部缺陷檢查

-高輸出功率裝置發(fā)熱特性的測量與分析

-傳感器單元的紅外圖像分析

-氧化物薄膜晶體管的熱特性

-3D堆疊半導體熱特性的測量分析

-OLED 器件的熱特性分析

-氣體傳感器的MEMS裝置的熱特性測量和分析

-InGaZnO薄膜晶體管的發(fā)熱特性及可靠性分析

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Specification（規(guī)格）