2022年10月11日至13日，Nanoscope Systems(納茲克股份有限公司)參加由東南大學(xué)主辦的第十三屆APCTP多鐵材料研討會。

自2008年起，亞太理論物理中心（APCTP）多鐵材料研討會在韓國浦項(xiàng)開始，隨后每年在亞太國家和地區(qū)輪流舉行，作為一個(gè)年度會議，在過去的幾年里已經(jīng)成功舉辦了12次。得益于專業(yè)精神、學(xué)術(shù)精神和高級別演講者，APCTP 會議已經(jīng)成為多鐵物理和材料界有影響力的活動之一，并吸引了來自各地的學(xué)術(shù)與會者。經(jīng)過二十年的發(fā)展，APCTP 已經(jīng)*多樣化了，不再局限于multiferroics 和 magnetoelectricity，各種新的鐵電系統(tǒng)和非傳統(tǒng)磁電物理的新興話題已經(jīng)成為新的熱點(diǎn)。

今年由于新冠疫情大流行對旅游的限制會議改為線上舉行，為了對APCTP 會議的支持Nanoscope Systems (納茲克股份有限公司) CEO  Byung-Seon Chun在會議上介紹了激光共聚焦顯微鏡和拉曼在材料方面的應(yīng)用

NS3500 高速3D激光共聚焦顯微鏡是納茲克股份有限公司專門針對材料表征、芯片制造、OLED屏幕檢測所研發(fā)的一款高速3D激光共聚焦顯微鏡，采用405nm 紫羅蘭激光作為光源，Z軸方向采用高精度PZT 并且采用類似于連續(xù)斷層掃描攝影的方式獲得一張張2D的光學(xué)切片，然后再通過計(jì)算機(jī)上安裝的NSViewer軟件系統(tǒng)重新構(gòu)建出一張3D圖像。高精度的PZT可以實(shí)現(xiàn)Z軸方向最小1nm移動精度，因此在太陽能電池、晶圓凸塊檢測、Wafer表面粗糙度、微納顆粒污染物以及芯片表面鍍膜厚度檢測方面有著廣泛的應(yīng)用。