2022年8月23日至26日，Nanoscope Systems(納茲克股份有限公司)參加在南京舉辦的第29屆非晶和納米晶半導體國際會議（ICANS）會議， ICANS會議是學術(shù)研究人員、工業(yè)合作伙伴和政策制定者聚集并分享非晶和納米薄膜或其他納米結(jié)構(gòu)材料最新進展的場所。

       自從1965年第一次布拉格會議開始，每兩年舉辦一次。由于疫情大流行的緣故，故29屆ICANS 推遲到2022年8月23日。

      ICANS@Nanjing是國內(nèi)的首場盛會，會議涵蓋非晶半導體材料體系的基礎物理、建模和表征技術(shù)、硅基、氧化物、有機、鈣鈦礦和二維薄膜和納米結(jié)構(gòu)；廣泛的薄膜晶體管 (TFT)、太陽能電池、傳感器、發(fā)光二極管 (LED) 和存儲器，以及新興的柔性薄膜電子和神經(jīng)形態(tài)應用。

       本次展會納茲克股份有限公司展出的產(chǎn)品有NS3500高速3D激光共聚焦顯微鏡以及便攜式拉曼光譜儀，NS3500 高速3D激光共聚焦顯微鏡是納茲克股份有限公司專門針對材料表征、芯片制造、OLED屏幕檢測所研發(fā)的一款高速3D激光共聚焦顯微鏡。

       展會上納茲克股份有限公司的技術(shù)工程師與參會的老師們針對OLED 顯示，芯片檢測等方面進行了深入的技術(shù)交流，并且在展會現(xiàn)場對器件進行了現(xiàn)場檢測展示。

      NS3500 采用405nm 紫羅蘭激光作為光源，Z軸方向采用高精度PZT 并且采用類似于連續(xù)斷層掃描攝影的方式獲得一張張2D的光學切片，然后再通過計算機上安裝的NSViewer軟件系統(tǒng)重新構(gòu)建出一張3D圖像。高精度的PZT可以實現(xiàn)Z軸方向最小1nm移動精度，因此在太陽能電池、晶圓凸塊檢測、Wafer表面粗糙度、微納顆粒污染物以及芯片表面鍍膜厚度檢測方面有著廣泛的應用。